A63.7080 쇼트키 전계 방출 건 주사 전자 현미경 표준 FEG SEM, 15x~500000x
제품 설명
| A63.7080 쇼트키 전계 방출 총 주사 전자 현미경 프로 FEG SEM | ||
| 해결 | 1.5nm@15KV(SE); 3nm@20KV(BSE) | |
| 확대 | 15x~500000x | |
| 전자총 | 쇼트키 방출 전자총 | |
| 전자빔 전류 | 10pA~0.3μA | |
| 가속 항해 | 0~30KV | |
| 진공 시스템 | 2 이온 펌프, 터보 분자 펌프, 기계식 펌프 | |
| 탐지기 | SE: 고진공 2차 전자 검출기(검출기 보호 포함) | |
| BSE: 반도체 4분할 후방 산란 감지기 | ||
| CCD | ||
| 표본 단계 | 5축 유심 전동 스테이지 | |
| 여행 범위 | X | 0~80mm |
| Y | 0~50mm | |
| Z | 0~30mm | |
| R | 360º | |
| T | -5º~70º | |
| 최대 시편 직경 | 175mm | |
| 가감 | EBL, STM, AFM, 가열단계, 저온단계, 인장단계, 마이크로나노 매니퓰레이터, SEM+코팅기, SEM+레이저 등 | |
| 부속품 | X선 검출기(EDS), EBSD, CL, WDS, 코팅기 등 | |
장점 및 사례
주사전자현미경(sem)은 금속, 세라믹, 반도체, 광물, 생물학, 고분자, 복합재료 및 나노크기의 1차원, 2차원, 3차원 물질(2차 전자영상, 후방 산란 전자 이미지). 미세 영역의 점, 선 및 표면 구성 요소를 분석하는 데 사용할 수 있습니다. 석유, 지질학, 광물 분야, 전자, 반도체 분야, 의학, 생물학 분야, 화학 산업, 고분자 재료 분야, 공안, 농업, 임업 및 기타 분야의 범죄 수사.
회사 정보
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